缺陷defect

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[PDF] 國立交通大學工業工程與管理學系碩士班碩士論文 - 國立交通大學機構 ...Hsinchu, Taiwan, Republic of China. 中華民國九十八年 ... 現行晶粒檢測方法. 現行晶粒檢測的方法主要分為：缺陷群集(Defect Clustering)與視覺檢測 ... [4] F. L. Chen and S. F. Liu, “A neural-network approach to recognize defect spatial pattern in ...晶體缺陷- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia晶體缺陷（英語：crystallographic defect）是指晶體結構中周期性的排列規律被打破的情況。

理想的晶體，具有周期性的晶體結構（這稱為「長程有序」）。

原子或 ...defect - 缺陷 - 國家教育研究院雙語詞彙出處/學術領域, 英文詞彙, 中文詞彙. 學術名詞 食品科技, defect, 缺陷，缺損. 學術名詞 礦物學名詞, defect, 缺陷. 學術名詞 工業工程名詞, defect, 缺點. 學術名詞結晶構造與缺陷結晶缺陷(Crystallographic Defects). A. 熱振動(Thermal Vibrations). (a) 大多數固態金屬原子之振動頻率(Debye frequency) 與振幅。

(b) 任一瞬間，各原子的振動 ...[PDF] 建構半導體故障分析中晶圓缺陷與針測圖樣關聯性模式建構半導體故障分析中晶圓缺陷與針測圖樣關聯性模式. 計畫類別：個別型 ... sfliu@ mail.ypu.edu.tw. 執行單位：元培 ... 缺陷（Killer defect，亦即此種缺陷之存在必定. 會造成晶片之良 ... Hsieh, H. W., and Chen, F. L., 2004, “Defect. Spatial Patterns ...檢驗太陽能晶圓：修復看不見的缺陷 | Applied Materialsc-Si Wafer Defects and Breakage: A Strong Correlation. Inspection of bare c-Si wafers prior to processing them into solar cells is not yet a widely adopted practice.使用先進電子束缺陷檢測設備以加速金氧化半導體製程開發缺陷檢測技術主要有暗場(Dark Field)、明場(Bright Field)和電子束(e-Beam)檢查。

... 一般而言，影響良率的缺陷通常源自於部份或整個元件中的物理性缺陷(Physical Defects)，電子束檢測也因為電子束的像素(pixel size)較光學小( ... 2-3 Detection mechanism and digital gray level (GL)....17 ... 聯絡E-mail：[email protected]. tw.缺陷- English translation – LingueeMany translated example sentences containing "缺陷" – English-Chinese dictionary and search engine for English ... tolerances for defects, such as blemishes [.304不锈钢边部压锈缺陷解决措施与工艺优化研究_中国炼铁网通过现场对304不锈钢边部压锈缺陷形成原因的分析及跟踪，发现适当提高加热温度、 ... Through the test and tracking of the defect formation of 304 stainless steel ...TWI311687B - Method for detecting the position of a defect in a ...因此'爲了克服檢測玻璃基板缺陷的肉眼檢測法的界1311687 限，有必要開發自動 ... 級變化爲5〇、100、150、200、250，而且'對梯度指*Gl的值的變化進行仿真。