KLA-Tencor 推出5D 圖案成型控制解決方案的關鍵系統 - 科技新報
文章推薦指數: 80 %
KLA-Tencor 公司今天宣佈,推出WaferSight PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統、LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統和K-T Analyzer 9.0 先進數據分析系統。
X
科技新知時時更新
免費訂閱電子報
訂閱
退訂
※此電子郵件已被使用!
請勾選您感興趣的類別(至少勾選一項)
產業科技
科技財經
網路趨勢
科技新知
科技新品
同意隱私權政策*
本篇文章將帶你了解:KLA-Tencor推出5D圖案成型控制解決方案的關鍵系統
KLA-Tencor公司今天宣佈,推出WaferSightPWG已圖案晶圓幾何形狀測量系統、LMSIPRO6光罩圖案位置測量系統和K-TAnalyzer 9.0先進數據分析系統。
這三種新產品支援KLA-Tencor獨特的5D圖案成型控制解決方案,此方案著重於解決圖案成型製程控制上的五個主要問題—元件結構的三維幾何尺寸、時間效率和設備效率。
本篇文章將帶你了解:KLA-Tencor推出5D圖案成型控制解決方案的關鍵系統
這篇文章為深度內容,只有加入會員可以觀看
升級會員讓您暢讀無阻,即可查看此文章完整內容
立刻加入我們吧
科技新知,時時更新
科技新報粉絲團
訂閱免費電子報
關鍵字:5D,K-TAnalyzer9.0,KLA-Tencor,LMSIPRO6,WaferSightPWG
Postnavigation
←無懼雙反!陸廠Q2太陽能面板出貨量大增夏普腰斬
斯堪地那維亞航空公司成為HelioJetSpectrumCCLED機艙照明解決方案首個合作夥伴 →
我們偵測
到您有啟用
ADBlock
請您暫停使用ADBlock,以支持我們持續能提供更多新聞資訊與優質的閱讀環境。
贊助專欄
活動專區
研討會
CurrencyRate
本週熱門塵埃落定,LUNA跌成垃圾UST崩塌,投資人學到了什麼?
不想回蘋果辦公室上班的機器學習總監,現在要去Google上班了航海家1號怎麼了?NASA:它正在傳回無意義遙測數據韓媒:三星追趕使台積電慌了!台積電開始開發1.4奈米先進製程台馬第二海纜中斷,中華電信啟動微波備援馬斯克宣布暫緩收購Twitter,Twitter盤前股價大跌逾18%恐慌、大虧、爭相拋售:矽谷背地崩盤遠比股市嚴重被Linux之父罵了十年、比AMD晚6年,Nvidia終於開源GPU核心
財訊快報
勤誠4月營收5.20億元
漢唐4月營收月增15.6%
康控-KY4月營收月減81.6%
遠傳4月營收月減3.3%
宜特4月營收月減6.5%
台灣大4月營收月減3.2%
中華電4月營收176.02億元
楠梓電4月營收3.29億元
志超4月營收24.75億元
榮群4月營收月增386.5%
更多>>
編輯精選
[熱門]航海家1號怎麼了?NASA:它正在傳回無意義遙測數據
[熱門]恐慌、大虧、爭相拋售:矽谷背地崩盤遠比股市嚴重
[熱門]不想回蘋果辦公室上班的機器學習總監,現在要去Google上班了
[熱門]韓媒:三星追趕使台積電慌了!台積電開始開發1.4奈米先進製程
[熱門]台馬第二海纜中斷,中華電信啟動微波備援
[熱門]馬斯克宣布暫緩收購Twitter,Twitter盤前股價大跌逾18%
[熱門]被Linux之父罵了十年、比AMD晚6年,Nvidia終於開源GPU核心
[熱門]塵埃落定,LUNA跌成垃圾UST崩塌,投資人學到了什麼?
FB粉絲團
其它
登入
文章RSS訂閱
迴響RSS訂閱
WordPress台灣正體中文
請您暫停使用ADBlock,以支持我們持續能提供更多新聞資訊與優質的閱讀環境。
延伸文章資訊
- 1Kla-tencor - CTIMES
KLA-Tencor缺陷檢測系統可解決製程和設備監控關鍵挑戰 (2018.07.24) ... KLA-Tencor 公司今天宣佈,推出WaferSight PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統、...
- 2CTIMES- 在線量測針對表徵和控制晶圓接合極度薄化
在本文中,圖案化晶圓表面形狀(PWG)系統在W2W接合和極度晶圓薄化期間被用於測量多個 ... 本文中所採用的全表面晶圓檢測和量測系統(KLA-Tencor公司 ...
- 3PWG5™ - KLA
As the latest-generation PWG system, the PWG5 enables wafer geometry control for both patterned a...
- 4KLA-Tencor 推出5D 圖案成型控制解決方案的關鍵系統 - 科技新報
KLA-Tencor 公司今天宣佈,推出WaferSight PWG 已圖案晶圓幾何形狀測量系統、LMS IPRO6 光罩圖案位置測量系統和K-T Analyzer 9.0 先進數據分析系統。
- 5用於半導體製程控制之圖案化晶圓幾何量測之方法及系統
參考圖1,展示在一圖案化晶圓幾何(PWG)量測工具上量測之一晶圓平坦度。 ... US20060234139A1 * 2005-04-13 2006-10-19 Kla-Tencor Techn...