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每日焦點 雷射誘導擊穿光譜元素分析技術與應用 雷射誘導擊穿光譜(LIBS)分析技術具備非破壞性、高靈敏度以及快速的全元素定性、定量等技術優勢，並且幾乎無須樣品前處理，適用於固體、液體、薄膜等不同型態的樣品，近年來在化工製程、現地檢測、汙染物分析、環境地質，甚至是太空探勘等多項領域展露其應用潛力，也成為線上即時監控的重要技術。

並且雷射誘導擊穿光譜可與其他檢測技術搭配，例如感應耦合電漿放射光譜儀(ICP-OES)、原子力顯微鏡(AFM)、螢光光譜分析(XRF)等，透過多元技術整合提供快...... [詳細]