Open/Short 开短路测试方法 - 前进笔记

开短路测试(Open Short Test)用于测试芯片各个引脚内部是否开路，引脚间的是否有短路，以及测试时与测试机连接是否良好。

测试原理比较简单，一般分 ... //炬火不止，前进不息Open/Short开短路测试方法发表于2021年1月26日，分类在全部电子技术，0评论测试原理开短路测试(OpenShortTest)用于测试芯片各个引脚内部是否开路，引脚间的是否有短路，以及测试时与测试机连接是否良好。

测试原理比较简单，一般分为OpenshorttoVDD测试和OpenshorttoVSS测试。

一般芯片每个管脚都有由两个首尾相接的二极管组成的ESD保护电路，一端接VDD，一端接VSS，两个二极管中间引出芯片管脚。

测试目的该测试主要测试各管脚对地及对电源的这两个ESD保护二极管是否正常，也能检测到芯片和测试机的连接状态是否正常，所以有时也叫连接性测试。

测试方法OpenshorttoVDD给所测试的管脚灌100uA的电流，其他管脚给零电位或直接接地，然后测出管脚电压即为VDD二极管压降。

典型值通常为0.65V，范围在0.2V~1.5V之间OpenshorttoVSS从所测试的管脚拉-100uA的电流，其他管脚给零电位或直接接地，然后测出管脚电压即为VDD二极管压降典型值通常为-0.65V，范围在-0.2V~-1.5V之间测试结果如果测到的值小于0.2或大于-0.2，则为短路如果测到的值小于-1.5或大于1.5，则为开路可能遇到的问题有的时候测到的值非常临界，则有可能是电压电流源与所测试管脚之间的连接线与管脚的接触电阻比较大，电流流过去的时候造成电压较大，导致误判为开路。

所以接触问题，是开短路测试中最大的问题。

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