OPEN/SHORT测试原理 - 面包板社区
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simon.mc
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OPEN/SHORT测试原理
2007-6-2810:31
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测试测量
对于IC测试来说,Open/Short测试都是必须的,而且在所有测试Item来说,都是最先的,所以要开始学习测试原理,就要从Open/Short开始学起。
1O/S的意义 O/S测试是验证是否有其他的pin与所测的pin有短路现象,或者所测pin是否开路。
O/S测试可以节省测试时间,因为如果一颗IC如果已经O/S,就没有意义在进行下面的功能或参数测试了2测试的方法 大家都应该知道,其实O/S的测试原理是每一个pin为了保护IC,对GND和VDD都有一个保护二极管,所以测试出来的电压值就是保护二极管的管压降 测试的原理:1测试对VDD二极管压降,就是给所测pin加100uA电流,其他的pin全部给零电位,或者直接接到GND pin,二极管导通后,测试该pin的电压,通常典型值0.65V,范围是0.2-1.5V 2测试对GND二极管压降,就是给所测pin加-100uA电流,其他的pin全部给零电位,或者直接接到GND pin,二极管导通后,测试该pin的电压,通常典型值-0.65V,范围是-0.2V-(-1.5V)3测试出现的问题 如果测到的值小于0.2或大于-0.2,则为short,如果测到的值小于-1.5或大于1.5则为open,当然有的时候测到的值非常的临界,则有可能是电压电流源连接到所测试的pin接触电阻比较大,电流留过去的时候造成电压较大,所以接触问题,是测试O/S最大的问题
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billzhu_345737527
2014-6-513:04
学些了,3q~
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tntzgy_745585676
2008-2-2709:31
请问兄台可否告之哪里有此测试仪购买.
我的邮箱是:[email protected]
谢谢!
回复
simon.mc
2007-7-608:31
其实这也和不同产品有关系,因为各个PIN到VDD或GND的电阻也是有所区别的,所以有些公司定的不太一样,但我觉得可以适当放宽点,因为PROBE或GOLDENFINGER长时间与IC接触或老化,导致接触差点,O/S会测试的较高,还有有些IC电镀的镀层稍差也会导致高点,所以我觉得可以适当放宽点.他们说的合理其实指的是担心过大会导致LEAKAGE过大
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Cindy_si
2007-7-518:14
我以前看到范围一般为-1.2到-0.2,0.2到1.2,但是碰到一个台湾测试工程师,说是一般取-0.8到-0.2,0.2到0.8更合理,他们公司都采用这种,你认为这三种在实际测量中哪种更合适?
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