善用參考設計半導體開路/短路測試快又好| 新通訊

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LabVIEW 半導體檢驗 防護二極體 開路測試 短路測試 CMOS SMU NI 善用參考設計 半導體開路/短路測試快又好 2011-11-25 雖然目前有多款裝置可進行開路與短路測試,但仍屬半導體檢驗測試最為常見。

此篇技術文件將透過互補式金屬氧化物半導體(CMOS)晶片,說明開路與短路的測試程式。

在進入技術細節前,須先了解開路與短路測試與



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